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簡(jiǎn)要描述:XLt-797ZXRF分析儀通過(guò)手提式的X射線管激發(fā)源為用戶帶來(lái)速度和效率的革命。這個(gè)型號(hào)是設(shè)計(jì)來(lái)檢測(cè)塑料和金屬電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和其它有害重金屬元素。
世界的便攜式技術(shù)
XLt-797ZXRF分析儀通過(guò)手提式的X射線管激發(fā)源為用戶帶來(lái)速度和效率的革命。這個(gè)型號(hào)是設(shè)計(jì)來(lái)檢測(cè)塑料和金屬電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和其它有害重金屬元素。
歐盟多國(guó)及美國(guó)的海關(guān)及商檢部門都采用NITON手持式XRF分析儀作遵從RoHS法令的快速確認(rèn)檢測(cè)。
選擇美國(guó)(尼通)Niton便攜式X射線熒光合金、金屬分析光譜儀的原因:
√樣品無(wú)損測(cè)試重約一公斤
√有多種系列供選用(合金鑒別、環(huán)保、礦產(chǎn)資源)
√檢測(cè)元素范圍廣
√瞬間可得到檢測(cè)結(jié)果(%級(jí)或ppm級(jí))
專為RoHS/WEEE指令而設(shè)計(jì)的XRF
XLt 797Z 便攜式合金與塑料元素分析儀 通過(guò)使用超微型的X射線管激發(fā)源用來(lái)檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品的塑料和金屬中的鎘(Cd)、鉛(Pb)以及其他有害元素成分。
產(chǎn)品參數(shù)
射線檢測(cè)器:高性能Si-PIN檢測(cè)器, Peltier制冷器;分辨率: 優(yōu)于220eV;Limits : 2 sigma (95% confidence-intervals)
測(cè)量結(jié)果單位:塑料模式 PPM;合金模式 質(zhì)量的%
重量 /尺寸:1.4 kg (3.0 lbs);248 x 273 x 95 mm (9.75 x 10.5 x 3.75 in)
激發(fā)源:小型X射線管及供電器(40kV/50µAzui大)
系統(tǒng)電子元件:Hitachi SH-4 CPU 、ASICS 高速數(shù)字訊號(hào)處理器、4096頻道MCA
電池:2充電鋰離子電池;6-12 小時(shí)使用時(shí)間, 2 小時(shí)充電時(shí)間。
顯示:¼ 背景光 VGA觸摸式LCD
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):內(nèi)置式 zui多3000個(gè)讀數(shù)以及X射線光譜圖
分析范圍:塑料模式 Ti, Cr, Fe, Cu, Zn, Se, Br, Cd, Sn, HgPb;合金模式 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Hf, Ta, W, Re, Pb,Bi, Pd, Ag, Sn
標(biāo)準(zhǔn)件:樣品配件件包 – 工作臺(tái)和100個(gè)樣品杯組裝件;帶鎖、防水手提箱;防掉腰套;鋰離子電池及護(hù)套;110/220V 電池充電器;RS-232 電腦連接線;NDT© (NITON 數(shù)據(jù)傳輸) 電腦軟件;集成條碼掃描器以及虛擬鍵盤用來(lái)快速準(zhǔn)確地輸入樣品信息
輻射安全:正確操作 XLt 797Z (38kV/20uA)的前提下,儀器處于開(kāi)啟狀態(tài)、沒(méi)有任何防護(hù)措施手握儀器把柄時(shí)手指受到的zui大輻射量是8 µSv/hr
數(shù)據(jù)輸入:通過(guò)觸摸屏、條碼掃描器或者通過(guò)RS232接口和連接線使用電腦操作。也可選配BlueTooth無(wú)線通訊設(shè)備
數(shù)據(jù)輸出:通過(guò)RS-232接口以及附帶的NITON數(shù)據(jù)傳輸軟件(NDT)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。容易地把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成電腦用的電子表格并使用微軟word合并報(bào)告。
安全:密碼保護(hù)功能
手提箱:堅(jiān)固,無(wú)鉛、無(wú)鎘防水箱,帶鎖。高強(qiáng)度、不沾塵水塑料注塑成型
培訓(xùn):免費(fèi)的現(xiàn)場(chǎng)使用安全操作培訓(xùn)和相關(guān)知識(shí)介紹。
保養(yǎng)期:24個(gè)月儀器保養(yǎng)期,包括X射線管所有的Niton公司XRF分析儀均在美國(guó)MA生產(chǎn)。
主要特點(diǎn)
美國(guó)尼通便攜式Niton 塑料與合金分析儀在進(jìn)行檢測(cè)方面應(yīng)用具有:
·快速,直觀:通常使用100秒的檢測(cè)時(shí)間就可達(dá)到ROHS法令的要求
·無(wú)損不破壞:由于采用X熒光能量色散原理,不需要取樣及破壞待測(cè)樣品
·操作簡(jiǎn)便: 并且不需要專門使用專業(yè)檢測(cè)人員,普通QA員工經(jīng)過(guò)1天左右培訓(xùn)后就能熟練操作該儀器。